Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria |
català |
Enginyeria Electrònica (2006) |
Assignatures |
CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS |
Competències |
DADES IDENTIFICATIVES | 2009_10 |
Assignatura | CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS | Codi | 175101221 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2on | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
3 | Optativa | Únic anual |
Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Tipus A | Codi | Competències Específiques |
Professionalitzador | ||
Recerca | ||
Tipus B | Codi | Competències Transversals |
Comú | ||
Tipus C | Codi | Competències Nuclears |
Comú |