2009_10
Guia docent 
Escola Tècnica Superior d'Enginyeria
A A 
català 
Enginyeria Electrònica (2006)
 Assignatures
  CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS
   Objectius d'aprenentatge
Objectius Competències
Conèixer la relació entre l’estructura cristal.lina i la simetria amb les propietats físiques dels materials. Conèixer les principals aplicacions de les tècniques de difracció de Raigs X. Aplicar la difracció de raigs-X als cristals, i els materials nanoestructurats. Conèixer com l’estructura cristal.lina influeix en les propietats dels cristals, i els materials nanoestructurats.