| Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria |
català |
| Enginyeria Electrònica (2006) |
 Assignatures |
| CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS |
| Avaluació |
| DADES IDENTIFICATIVES | 2009_10 |
| Assignatura | CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS | Codi | 175101221 | |||||
| Ensenyament |
|
Cicle | 2on | |||||
| Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
| 3 | Optativa | Únic anual |
||||||
| Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
| Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
| Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
| Descripció | Pes | ||
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària | Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària i lliurar un resum | 80 | |
| Proves pràctiques | Realització d’un exercici pràctic i individual. | 20 | |
| Altres comentaris i segona convocatòria | |||
