| Educational guide School of Engineering |
english |
| Electronic Engineering (2010) |
 Subjects |
| CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS |
| Learning aims |
| IDENTIFYING DATA | 2011_12 |
| Subject | CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS | Code | 17605221 | |||||
| Study programme |
|
Cycle | 2nd | |||||
| Descriptors | Credits | Type | Year | Period | ||||
| 3 | Optional | Only annual |
||||||
| Competences | Learning aims | Contents |
| Planning | Methodologies | Personalized attention |
| Assessment | Sources of information | Recommendations |
| Objectives | Competences | ||
| Conèixer els fonaments de la difracció de Raigs per els cristall Conèixer les principals tècniques de difracció de Raigs X. Conèixer les principals aplicacions de les tècniques de difracció de Raigs X. Conèixer la relació entre l’estructura cristal.lina i la simetria espacial i puntual amb les propietats físiques dels materials. | AR1 AP2 |
BC2 |
|
