2007_08
Guia docent 
Escola Tècnica Superior d`Enginyeria
A A A 
català 
Enginyeria Electrònica (2006)
 Assignatures
  MATERIALS ELECTRÒNICS
   Continguts
Tema Subtema
Caracterització elèctrica Mètode de les 4 puntes.
'Spreading resistance' (2 puntes)
Mesures de capacitat en materials electrònics
Efecte Hall
Magnetoresistència
DLTS
Caracterització per difracció Introducció a la cristal·lografia
Bases matemàtiques i físiques de la difracció, per raigs X.
Tècniques de difracció de monocristall per raigs-X
Tècniques de difracció de policristall per raigs-X. Textures.
Tècniques d'incidència rasant.
Introducció a la difracció d'electrons.
Reflectometria.
Caracterització microscòpica Paràmetres generals d'una microscòpia.
Microscòpia òptica.
Microscòpia electrònica.
Microscòpia electrònica de rastreig (SEM): imatges, espectres (EDS, WDS, Auger).
Microscòpia electrònica de transmissió (TEM): mode imatge, mode de difracció d'electrons, SAD, anàlisis elementals, alta resolució (HREM).
STEM.
EELS.
Microscòpia nanomètrica: microscopi d'efecte tunel per nano-rastreig (STM), microscopi de força atòmica per nano-rastreig (AFM).
Caracterització per fotoelectrons. Problemes fonamentals de les espectroscòpies quantitatives. Efecte matriu. Necessitat de patrons.

Espectròmetre de fotoelectrons per raigs-X. (ESCA o XPS).

Espectroscòpia d'electrons Auger.
Caracterització per anàlisi d'ions. Espectroscòpia de masses d'ions secundaris (SIMS).

Millores respecte els SIMS disponibles.
Caracterització fotònica. El·lipsometria i polarimetria.
Fluorescència de raigs-X.
Espectroscòpia d'infrarroig. FTIR.
Espectroscòpia Raman.