Guia docent Escola Tècnica Superior d`Enginyeria |
català |
Enginyeria Electrònica (2006) |
Assignatures |
MATERIALS ELECTRÒNICS |
Fonts d'informació |
DADES IDENTIFICATIVES | 2007_08 |
Assignatura | MATERIALS ELECTRÒNICS | Codi | 175101105 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2on | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
6 | Obligatòria | Primer | Únic anual |
Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Bàsica | |
· Semiconductor Science: growth and characterization techniques, T.E.Jenkins. Ed. Prentice-Hall ( UK ) 1995. · Structural and chemical Analysis of Materials, X-ray and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectroscopy. Electron microscopy, J.P.Eberhart. Ed. John Wiley & sons ( UK ) 1991. · Surface and thin Film Analysis, a compendium of principles, instrumentation and applications. H.Bubert and H.Jenett. Ed. Wiley-VCH ( Germany ) 2002. · Scanning and Transmission Electron Microscopy: an introduction. S.L. Fleger, J.W.Heckman Jr, K.L. Klomparens.Oxford University Press ( New York ) 1993. · Introductory Raman spectroscopy. J.R. Ferraro, K.Nakamoto, Academic Press ( San Diego ) 1994. · Images of materials. D.B.williams, A.R.Pelton, R. Gronsky. Oxford University Press ( New York ). 1991. |
|
Complementària | |