| Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria |
català |
| Enginyeria Electrònica (2006) |
 Assignatures |
| CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS |
| Planificació |
| DADES IDENTIFICATIVES | 2009_10 |
| Assignatura | CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS | Codi | 175101221 | |||||
| Ensenyament |
|
Cicle | 2on | |||||
| Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
| 3 | Optativa | Únic anual |
||||||
| Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
| Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
| Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
| Metodologies :: Proves | |||||||||
| Competències | (*) Hores a classe | Hores fora de classe | (**) Hores totals | ||||||
| Activitats Introductòries |
|
1 | 0 | 1 | |||||
| Sessió Magistral |
|
30 | 0 | 30 | |||||
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària |
|
35 | 0 | 35 | |||||
| Atenció personalitzada |
|
2 | 0 | 2 | |||||
| Proves pràctiques |
|
2 | 6 | 8 | |||||
| (*) En el cas de docència no presencial, són les hores de treball amb suport vitual del professor. (**) Les dades que apareixen a la taula de planificació són de caràcter orientatiu, considerant l’heterogeneïtat de l’alumnat | |||||||||
