| Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria |
català |
| Enginyeria Electrònica (2006) |
 Assignatures |
| CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS |
| Metodologies |
| DADES IDENTIFICATIVES | 2009_10 |
| Assignatura | CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS | Codi | 175101221 | |||||
| Ensenyament |
|
Cicle | 2on | |||||
| Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
| 3 | Optativa | Únic anual |
||||||
| Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
| Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
| Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
| Descripció | |
| Activitats Introductòries | Presentació de l’assignatura. |
| Sessió Magistral | Exposició teòrica dels continguts de l’assignatura. |
| Resolució de problemes, exercicis a l'aula ordinària | Realització d’un treball pràctic. |
