| Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Química |
català |
| Nanociència, Materials i Processos: Tecnologia Química de Frontera (2013) |
 Assignatures |
| INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERIZACIÓ |
| Continguts |
| DADES IDENTIFICATIVES | 2018_19 |
| Assignatura | INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERIZACIÓ | Codi | 20705208 | |||||
| Ensenyament |
|
Cicle | 2n | |||||
| Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
| 3 | Optativa | AN |
||||||
| Competències | Resultats d'aprenentage | Continguts |
| Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
| Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
| Tema | Subtema |
| 1. Introducció. Microscòpia òptica. Microscòpia confocal. Aplicacions i perspectives futures. | |
| 2. Microscòpia de sonda d’escombrat (SPM). Principi de funcionament i diferents tècniques existents. Microscòpia d’efecte túnel (STM). Principis bàsics. Determinació de l'estructura superficial per STM. Espectroscòpies d’escombrat i d’efecte túnel. Manipulacions atòmiques amb STM. Desenvolupaments recents i aplicacions. | |
| 3. Microscòpia de força atòmica (AFM). Principis bàsics. Modes de contacte i dinàmic. Mesura de propietats locals mitjançant AFM. Altres tècniques SPM. Aplicacions a materials en la nanoescala. | |
| 4. Microscòpia electrònica. Aspectes generals. Generació del feix d’electrons. Interacció dels electrons amb la matèria. Microscòpia d’escaneig electrònic (SEM). Microscòpia d’escaneig electrònic ambiental (ESEM). Anàlisi de raigs X en SEM/ESEM. Aplicacions. | |
| 5. Microscòpia de transmissió electrònica (TEM). Preparació de la mostra. Aplicacions. | |
| 6. Tècniques de difracció per a determinar estructures cristal·lines. Difracció per raigs-X (XRD). |
