| Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Química |
català |
| Nanociència, Materials i Processos: Tecnologia Química de Frontera (2013) |
 Assignatures |
| MATERIALS: SIMETRIA I PROPIETATS |
| Continguts |
| DADES IDENTIFICATIVES | 2013_14 |
| Assignatura | MATERIALS: SIMETRIA I PROPIETATS | Codi | 20705215 | |||||
| Ensenyament |
|
Cicle | 2n | |||||
| Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
| 3 | Optativa | Únic anual |
||||||
| Competències | Resultats d'aprenentage | Continguts |
| Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
| Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
| Tema | Subtema |
| 1. - Simetria en els materials cristal · lins. |
Introducció a la Cristal · lografia. Terminologia bàsica. Símbols i termes. Grups puntuals de simetria cristal · lina. Grups espacials de simetria cristal · lina. |
| 2.-Anisotropia de les propietats físiques dels materials. | Propietats físiques com tensors. Terminologia bàsica. Principi de Newman. Compatibilitat entre simetria i propietat física. El valor d'una propietat en una direcció determinada. Principi de Curie: Influència d'un agent extern sobre el canvi de la simetria en un material. |
| 3.-Relació entre l'estructura cristal · lina i la morfologia dels cristalls. | Nucleació i creixement cristal · lí. Mida i forma dels cristalls / partícules en funció de les condicions de creixement. Principis de Curie i teorema de Wulff per la forma d'equilibri i de creixement. Tipologia de superfícies dels materials cristal · lins. |
| 4.- Caracterización de los materiales por difracción de rayos-X. | Técnica de difracción de material policristalino. Las intensidades de los rayos difractados: Factor de estructura y sus aplicaciones. Identificación de fases desconocidas. Medidas de los parámetros de celda cristalina. Afinamiento de estructuras cristalinas por Difracción de Rayos-X. Difracción de rayos-X con cámara de alta temperatura. Polimorfismo y transición de fase por variación de la temperatura. Dilatación de un material cristalino por difracción de rayos-X. Tensor de dilatación térmica de los materiales anisotrópicos. |
| 5.-Caracterizacion de la textura de los materiales. | Difracción de Rayos-X tridimensional. Esfera de Ewald. Goniómetro para análisis de la textura. Goniometro de Euler con geometría de Schulz. Caracterización de capas delgadas. Orientación de materiales cristalinos para su corte |
