Grau de Química (2009) |
Assignatures |
CRISTAL·LOGRAFIA |
Continguts |
DADES IDENTIFICATIVES | 2011_12 |
Assignatura | CRISTAL·LOGRAFIA | Codi | 13204117 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 1r | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
3 | Obligatòria | Segon | Primer |
Competències | Resultats d'aprenentage | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Tema | Subtema |
Tema 1. Materia cristal·lina: Teoria reticular. Red real. Red recíproca. Sistemes Cristal·lins. Terminologia. |
Periodicidad. Celda unidad. Paràmetres. Sistemes Cristal·lins . Volum de la cel·la unitat. Red real. Red reciproca. Nus, direcció reticular, pla reticular, índexs de Miller. Càlculs geomètrics, distàncies, àngles i espaiat d'una familia de plans segons sistema. |
Tema 2. Simetria d'objectes finits. Grups puntuals cristal·logràfics.Classificació segons Sistemes cristal·lins. Notació. | Simetria d'objectes finits. Grups puntuals cristal·logràfics. Simetría de objetos finitos. Simetría dels cristalls com objectes finits. Teorema de les operacions de simetría. Notació de Hermann-Mauguin de la IUCr. (Unió Internacional de Cristal·lografía).Projecció estereográfica per a la representació de propietats físiques anisotrópiques. |
Tema 3. Descripció d'una estructura cristal·lina. Simetría dels objectes periòdics infinits. Grups espacials cristalogràfics. Notació de Hermann-Mauguin de la IUCr. |
Descripció d'una estructura cristal·lina. Simetría dels objectes periòdics infinits. Grups espacials cristalogràfics. Notació de Hermann-Mauguin de la IUCr. Simetría de les xarxes cristal·lines. Xarxes de Bravais. Elements de simetria amb lliscament i operacions de simetría amb lliscament. |
Tema 4. Difracció de Raigs-X. Interacció dels RX amb la materia cristal·lina. Lleis geométriques de la difracció elàstica. |
Difracció de Raigs-X. Interacció dels RX amb la materia cristal·lina. Lleis geométriques de la difracció elàstica. Esfera de Ewald. Llei de Bragg. Intensitat de la radiació difractada i factor de estructura. Influència de la simetría del cristall sobre les intensitats de la radiació difractada. |
Tema 5. Tècniques de caracterizació de sòlids cristal·lins per difracció de RX: |
Técniques de caracterizació de sòlids cristal·lins per difracció de RX: Descripció de les principals tècniques de DRX, de pols cristal·lina i de monocristall, amb aplicacions i exemples de cada una. |