Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Química |
català |
Nanociència, Materials i Processos: Tecnologia Química de Frontera (2013) |
Assignatures |
INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERIZACIÓ |
Continguts |
DADES IDENTIFICATIVES | 2013_14 |
Assignatura | INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERIZACIÓ | Codi | 20705208 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2n | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
3 | Optativa | Únic anual |
Competències | Resultats d'aprenentage | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Tema | Subtema |
1. Introducció. Microscòpia òptica. Microscòpia confocal. Aplicacions i perspectives futures. | |
2. Microscòpia de sonda d’escombrat (SPM). Principi de funcionament. Microscòpia d’efecte túnel (STM). Principis bàsics. Determinació d’estructures per STM. Espectroscòpies d’escombrat i d’efecte túnel. Manipulacions atòmiques amb STM. Desenvolupaments recents i aplicacions. | |
3. Microscòpia de força atòmica (AFM). Principis bàsics. Modes de contacte i dinàmic. Mesura de propietats locals mitjançant AFM. Altres tècniques SPM. Aplicacions a materials en la nanoescala. | |
4. Microscòpia electrònica. Aspectes generals. Generació del feix d’electrons. Interacció dels electrons amb la matèria. Microscòpia d’escaneig electrònic (SEM). Microscòpia d’escaneig electrònic ambiental (ESEM). Anàlisi de raigs X en SEM/ESEM. Aplicacions. | |
5. Microscòpia de transmissió electrònica (TEM). Aplicacions. | |
6. Tècniques de difracció per a determinar estructures cristal•lines. Difracció per raigs-X (XRD). |