Grado en Química (2009) |
Asignaturas |
CRISTALOGRAFÍA |
Contenidos |
DATOS IDENTIFICATIVOS | 2015_16 |
Asignatura | CRISTALOGRAFÍA | Código | 13204117 | |||||
Titulación |
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Ciclo | 1º | |||||
Descriptores | Cr.totales | Tipo | Curso | Periodo | ||||
3 | Obligatoria | Segundo | 1Q |
Competencias | Resultados de aprendizaje | Contenidos |
Planificación | Metodologías | Atención personalizada |
Evaluación | Fuentes de información | Recomendaciones |
tema | Subtema |
Tema 1. Materia cristalina: Teoría reticular. Red real. Red recíproca. Sistemas Cristalinos. Terminología. |
Periodicidad. Celda unidad. Parámetros. Sistemas Cristalinos. Volumen de la celda unidad. Red real. Red reciproca. Desnudos, dirección reticular, plano reticular, índices de Miller. Cálculos geométricos, distancias, ángulos y espaciado de una familia de planes según sistema. |
Tema 2. Simetría de objetos finitos. Grupos puntuales cristal·logràfics.Classificació según Sistemas cristalinos. Notación. | Simetría de objetos finitos. Grupos puntuales cristalográficos. Simetría de Objetos finitos. Simetría de los cristales como objetos finitos. Teorema de las operaciones de simetría. Notación de Hermann-Mauguin de la IUCr. (Unión Internacional de Cristalografía) .Projecció estereográfica para la representación de propiedades físicas anisotrópicas. |
Tema 3. Descripción de una estructura cristalina. Simetría de los objetos periódicos infinitos. Grupos espaciales cristalográficos. notación de Hermann-Mauguin de la IUCr. |
Descripción de una estructura cristalina. Simetría de los objetos periódicos infinitos. Grupos espaciales cristalográficos. notación de Hermann-Mauguin de la IUCr. Simetría de las redes cristalinas. Redes de Bravais. Elementos de simetría con deslizamiento y operaciones de simetría con deslizamiento. |
Tema 4. Difracción de Rayos-X. Interacción de los RX con la materia cristalina. leyes geométricas de la difracción elástica. |
Difracción de Rayos-X. Interacción de los RX con la materia cristalina. leyes geométricas de la difracción elástica. Esfera de Ewald. Ley de Bragg. Intensidad de la radiación difractada y factor de estructura. Influencia de la simetría del cristal sobre las intensidades de la radiación difractada. |
Tema 5. Técnicas de caracterización de sólidos cristalinos por difracción de RX: |
Técnicas de caracterización de sólidos cristalinos por difracción de RX: Descripción de las principales técnicas de DRX, de polvo cristalino y de monocristal, con aplicaciones y ejemplos de cada una. |