Es pretén assolir els coneixements bàsics en Cristal·lografia
i difracció de raigs-X. Així com en les principals tècniques de
caracterització de sòlids cristal·lins.
Aspectes basics del estat cristallí, i de la diffracció de raigs- X.
La xarxa directa o sistema directa. La xarxa reciproca. Nomenclatura.
Punt, direcció, pla en Cristal·lografia.
Càculs cristal·lografics. Simetria Puntual. Simetria Espacial.
Caracterització per difracció de RX. Tècniques de difracció de RX.
(*)La Guia docent és el document on es visualitza la proposta acadèmica de la URV. Aquest document és públic i no es pot modificar, llevat de casos excepcionals revisats per l'òrgan competent/ o degudament revisats d'acord amb la normativa vigent