| Nanociencia, Materiales y Procesos: Tecnología Química de Frontera (2013) |
 Asignaturas |
| INTRODUCCIÓN A LAS TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN |
| Contenidos |
| DATOS IDENTIFICATIVOS | 2020_21 |
| Asignatura | INTRODUCCIÓN A LAS TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN | Código | 20705208 | |||||
| Titulación |
|
Ciclo | 2º | |||||
| Descriptores | Cr.totales | Tipo | Curso | Periodo | ||||
| 3 | Optativa | AN |
||||||
| Competencias | Resultados de aprendizaje | Contenidos |
| Planificación | Metodologías | Atención personalizada |
| Evaluación | Fuentes de información | Recomendaciones |
| tema | Subtema |
| 1. Introducción. Microscopía óptica. Microscopía confocal. Aplicaciones y perspectivas de futuro. | |
| 2. Microscopía de sonda de barrido (SPM). Principio de funcionamiento y diferentes técnicas existentes. Microscopía de efecto túnel (STM). Principios básicos. Determinación de la estructura superficial por STM. Espectroscopias de barrido de efecto túnel. Manipulaciones atómicas mediante STM. Desarrollos recientes y aplicaciones. | |
| 3. Microscopía de fuerza atómica (AFM). Principios básicos. Modos de contacto y dinámico. Medida de propiedades locales mediante AFM. Otras técnicas SPM. Aplicación a materiales en la nanoescala. | |
| 4. Microscopía electrónica. Aspectos generales. Generación del haz de electrones. Interacción de los electrones con la materia. Microscopía de escaneo electrónico (SEM). Microscopía de escaneo electrónico ambiental (ESEM). Análisis de rayos X en SEM/ESEM. Aplicaciones. | |
| 5. Microscopía de transmisión electrónica (TEM). Preparación de la muestra. Aplicaciones. | |
| 6. Técnicas de difracción para la determinación de estructuras cristalinas. Difracción por rayos X (XRD). |
