| Ingeniería y Tecnología de los Sistemas Electrónicos (2014) |
 Asignaturas |
| DISPOSITIVOS Y TECNOLOGÍAS MICRO Y NANOELECTRÓNICOS |
| Evaluación |
| DATOS IDENTIFICATIVOS | 2016_17 |
| Asignatura | DISPOSITIVOS Y TECNOLOGÍAS MICRO Y NANOELECTRÓNICOS | Código | 17675102 | |||||
| Titulación |
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Ciclo | 2º | |||||
| Descriptores | Cr.totales | Tipo | Curso | Periodo | ||||
| 4 | Obligatoria | Primer | 1Q |
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| Competencias | Resultados de aprendizaje | Contenidos |
| Planificación | Metodologías | Atención personalizada |
| Evaluación | Fuentes de información | Recomendaciones |
| Metodologías | Competencias | descripción | Peso | |||||
| Presentaciones/exposiciones |
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Los estudiantes realizaran una presentación oral de los trabajos realizados durante el curso ante sus compañeros. Se evaluará el orden, la claridad, la corrección y las capacidades de comunicación de los resultados obtenidos. | 20 % | |||||
| Trabajos |
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Los estudiantes deberán elaborar memorias escritas sobre los trabajos que realizarán durante el curso. Las memorias deberán contener una introducción al trabajo con los fundamentos teóricos necesarios, una descripción de los objetivos del trabajo, un informe de los resultados obtenidos y unas conclusiones. Se evaluará el orden, la claridad, la corrección y la capacidad de producir un texto escrito adecuado a las necesidades comunicativas. | 35 % | |||||
| Pruebas objetivas de preguntas cortas |
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Se realizará un examen consistente en la resolución de cuestiones cortas que impliquen la demostración de las competencias adquiridas por el estudiante, relacionadas con la asignatura. | 45 % | |||||
| Otros |
| Otros comentarios y segunda convocatoria | |||
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OBSERVACIONES: Durante las pruebas tipo test, los alumnos no podrán utilizar ningún dispositivo de comunicación ni con capacidad de transmisión de datos. En caso de no superar la evaluación continua, los alumnos dispondrán de una segunda convocatoria, que consistirá en un examen de preguntas cortas |
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