Nanociencia, Materiales y Procesos: Tecnologia Química de Frontera (2013) |
Asignaturas |
MATERIALES: SIMETRÍA Y PROPIEDADES |
Contenidos |
DATOS IDENTIFICATIVOS | 2013_14 |
Asignatura | MATERIALES: SIMETRÍA Y PROPIEDADES | Código | 20705215 | |||||
Titulación |
|
Ciclo | 2º | |||||
Descriptores | Cr.totales | Tipo | Curso | Periodo | ||||
3 | Optativa | Único anual |
Competencias | Resultados de aprendizaje | Contenidos |
Planificación | Metodologías | Atención personalizada |
Evaluación | Fuentes de información | Recomendaciones |
tema | Subtema |
1.- Simetría en los materiales cristalinos. |
Introducción a la Cristalografía. Terminología básica. Símbolos y términos. Grupos puntuales de simetría cristalina. Grupos espaciales de simetría cristalina. |
2.-Anisotropia de las propiedades físicas de los materiales. |
Propiedades físicas como tensores. Terminología básica. Principio de Newman. Compatibilidad entre simetría y propiedad física. El valor de una propiedad en una dirección determinada. Principio de Curie: Influencia de un agente externo sobre el cambio de la simetría en un material. |
3.-Relación entre la estructura cristalina y la morfología de los cristales. | Nucleación y crecimiento cristalino. Tamaño y forma de los cristales/partículas en función de las condiciones de crecimiento. Principios de Curie y teorema de Wulff para la forma de equilibrio y de crecimiento. Tipología de superficies de los materiales cristalinos. |
4.- Caracterización de los materiales por difracción de rayos-X. |
Técnica de difracción de material policristalino. Las intensidades de los rayos difractados: Factor de estructura y sus aplicaciones. Identificación de fases desconocidas. Medidas de los parámetros de celda cristalina. Afinamiento de estructuras cristalinas por Difracción de Rayos-X. Difracción de rayos-X con cámara de alta temperatura. Polimorfismo y transición de fase por variación de la temperatura. Dilatación de un material cristalino por difracción de rayos-X. Tensor de dilatación térmica de los materiales anisotrópicos. |
5.-Caracterizacion de la textura de los materiales. |
Difracción de Rayos-X tridimensional. Esfera de Ewald. Goniómetro para análisis de la textura. Goniometro de Euler con geometría de Schulz. Caracterización de capas delgadas. Orientación de materiales cristalinos para su corte |