Guia docent Escola Tècnica Superior d'Enginyeria Química |
català |
Nanociència i Nanotecnologia (2006) |
Assignatures |
INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERITZACIÓ |
Continguts |
DADES IDENTIFICATIVES | 2011_12 |
Assignatura | INTRODUCCIÓ A LES TÈCNIQUES DE CARACTERITZACIÓ | Codi | 205151207 | |||||
Ensenyament |
|
Cicle | 2n | |||||
Descriptors | Crèd. | Tipus | Curs | Període | ||||
2.5 | Optativa | Únic anual |
Competències | Objectius d'aprenentatge | Continguts |
Planificació | Metodologies | Atenció personalitzada |
Avaluació | Fonts d'informació | Recomanacions |
Tema | Subtema |
1. | Introduction. Optical microscopy. Confocal microscopy. Applications and future perspectives. |
2. | Scanning probe microscopy (SPM) and spectroscopy. Principle of operation. Scanning Tunneling microscopy (STM). Basic principles. Surface structure determination by STM. Scanning Tunneling spectroscopies. STM-based atomic manipulations. Recent developments and applications. |
3. | Atomic Force Microscope (AFM). Basic principles. Contact, Non-contact and Tapping AFM modes. Measuring local properties with AFM. Other scanning probe techniques. Applications to nanoscale materials. |
4. | Electron microscopy. General aspects of electron optics. Electron beam generation. Electron beam interactions. Scanning Electron Microscopy (SEM). Environmental Scanning Eletron Microscopy (ESEM). Transmission Electron Microscopy (TEM). Applications. |
5. | Electron Microscopy. Transmission Electron Microscopy (TEM). Applications. |
6. | Diffraction techniques to determine crystal structures. X-Ray Diffraction (XRD) |