2009_10
Guia docent 
Escola Tècnica Superior d'Enginyeria
A A A 
català 
Enginyeria Electrònica (2006)
 Assignatures
  CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS
DADES IDENTIFICATIVES 2009_10
Assignatura (*) CHARACTERIZATION OF CRYSTALS, NANOCRYSTALS AND NANOSTRUCTURED MATERIALS BY X-R DIFFRACTION METHODS Codi 175101221
Ensenyament
Enginyeria Electrònica (2006)
 Cicle 2on
Descriptors Crèd. Tipus Curs Període Horaris i dates d'examen
3 Optativa Únic anual
Modalitat i llengua d'impartició Veure grups activitat
Prerequisits
Departament Química Física i Inorgànica
Coordinador/a
AGUILÓ DÍAZ, MAGDALENA
 Adreça electrònica magdalena.aguilo@urv.cat
Professors/es
AGUILÓ DÍAZ, MAGDALENA
Web http://www.urv.net/perfils/7_alumnes_de_doctorat/marcos.htm
Descripció general i informació rellevant Descripció de la terminologia bàsica emprada en Cristal·lografia. xarxa real, reciproca, Grups espacials. Difracció de Raigs X, principals tècniques i aplicacions
(*)La Guia docent és el document on es visualitza la proposta acadèmica de la URV. Aquest document és públic i no es pot modificar, llevat de casos excepcionals revisats per l'òrgan competent/ o degudament revisats d'acord amb la normativa vigent